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芯片測(cè)試是確保芯片能夠正常工作的關(guān)鍵步驟。對(duì)于SoC芯片測(cè)試，由于SoC的基礎(chǔ)是深亞微米工藝，因此需要采用全新的測(cè)試方法。設(shè)計(jì)工程師必須在設(shè)計(jì)初期就做出測(cè)試規(guī)劃，以確保每個(gè)功能元件都能得到充分的測(cè)試。因此，芯片測(cè)試在設(shè)計(jì)初期系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試中是非常重要的。
| 中文名 | 芯片測(cè)試 |
| 個(gè)晶體管 | 1億 |
| 工具 | ATPG工具 |
| 軟件 | 測(cè)試軟件 |
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明道大學(xué)（MINGDAO UNIVERSITY），前身是汪廣平2001年創(chuàng)立的明道管理學(xué)院，位于中國(guó)臺(tái)灣彰化縣埤頭鄉(xiāng)文化路369號(hào)。于2007年更名為明道大學(xué)，首屆海青班入學(xué)。2020年明道大學(xué)通過(guò)美國(guó)國(guó)際獨(dú)立院校認(rèn)證委員會(huì)（ACICS）認(rèn)證。至2023年6月23日校長(zhǎng)為郭秋勛。
記憶障礙是以遺忘和記憶錯(cuò)誤為特征的一種精神心理科疾病。多因癡呆、腦外傷、嚴(yán)重應(yīng)激事件、柯薩可夫綜合征等多種疾病導(dǎo)致遺忘或記憶錯(cuò)誤。記憶障礙主要表現(xiàn)：記憶減弱、遺忘、錯(cuò)構(gòu)、虛構(gòu)、潛隱記憶等癥狀。記憶障礙主要通過(guò)病因治療等改善癥狀。記憶障礙常因遺忘和記憶錯(cuò)誤給生活和工作帶來(lái)不便。記憶障礙的預(yù)后與其病因有
西羅馬帝國(guó)是羅馬帝國(guó)在286年被戴克里先分為兩部分后建立的四帝共治制的產(chǎn)物。395年，最后一位統(tǒng)一羅馬帝國(guó)的皇帝狄?jiàn)W多西一世駕崩，將羅馬帝國(guó)分給兩個(gè)兒子分別繼承，從此羅馬帝國(guó)正式分裂為東西羅馬帝國(guó)。西羅馬帝國(guó)的正式名稱(chēng)與東羅馬帝國(guó)相同，均用羅馬共和時(shí)代的國(guó)名“元老院與羅馬人民”。在410年，西哥特人
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鋁礬土（英文：aluminous soil；bauxite）又稱(chēng)礬土或鋁土礦，主要成分為氧化鋁的水合物（三水鋁石、一水軟鋁石和／或一水硬鋁石），還包含了鐵的氧化物以及少量的鹽（硅酸鹽、鈦酸鹽、硫酸鹽和碳酸鹽）等。
尚可名片
這家伙太懶了，什么都沒(méi)寫(xiě)！
