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基本信息
| 中文名 | 透射電子顯微鏡 |
| 外文名 | Transmission Electron Microscope |
| 發(fā)明人物 | E.Ruska |
| 簡稱 | TEM |
正文
電子顯微術(shù)的主要電子光學儀器。主體部分是電子透鏡和顯像記錄系統(tǒng)，由置于真空中的電子槍、聚光鏡、物樣室、物鏡、衍射鏡、中間鏡、投影鏡、熒光屏和照相機等組成。與光學顯微鏡的結(jié)構(gòu)完全類似（見圖）。
透射電子顯微鏡
基本原理
在光學顯微鏡下無法看清小于0.2μm的細微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)（submicroscopicstructures）或超微結(jié)構(gòu)（ultramicroscopicstructures；ultrastructures）。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。1932年Ruska發(fā)明了以電子束為光源的透射電子顯微鏡（transmissionelectronmicroscope，TEM），電子束的波長要比可見光和紫外光短得多，并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比，也就是說電壓越高波長越短。目前TEM的分辨力可達0.2nm。
分類
大型透射電鏡
大型透射電鏡（conventionalTEM）一般采用80-300kV電子束加速電壓，不同型號對應不同的電子束加速電壓，其分辨率與電子束加速電壓相關(guān)，可達0.2-0.1nm，高端機型可實現(xiàn)原子級分辨。
低壓透射電鏡
低壓小型透射電鏡（Low-Voltageelectronmicroscope,LVEM）采用的電子束加速電壓（5kV）遠低于大型透射電鏡。較低的加速電壓會增強電子束與樣品的作用強度，從而使圖像襯度、對比度提升，尤其適合高分子、生物等樣品；同時，低壓透射電鏡對樣品的損壞較小。
冷凍電鏡（Cryo-microscopy）通常是在普通透射電鏡上加裝樣品冷凍設備，將樣品冷卻到液氮溫度（77K），用于觀測蛋白、生物切片等對溫度敏感的樣品。通過對樣品的冷凍，可以降低電子束對樣品的損傷，減小樣品的形變，從而得到更加真實的樣品形貌。
參考資料
[1]
細胞生物學教程[引用日期2011-01-15]
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這家伙太懶了，什么都沒寫！
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